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Keybot 88 Results  www.tour-taxis-residential.com  Page 9
  Produkti: SIGMASCOPE GO...  
Mobilais instruments ir aprīkots ar kabeļa zondi, kas ļauj veikt mērījumus pat caur aizsargājošām vai iepakojumu folijām. Tādējādi var novērst vērtīgu paraugu sabojāšanu. SIGMASCOPE GOLD ir pieejams divās versijās.
With SIGMASCOPE GOLD you can verify the authenticity of gold objects quickly and non-destructively. The handheld device reliably determines the presence of foreign materials such as tungsten, which can be found in forged gold bars or gold coinage. The mobile instrument is equipped with a cable probe that enables measurements even through protective or packaging foils. This prevents damage to valuable samples. SIGMASCOPE GOLD is available in two versions: SIGMASCOPE GOLD C is optimized for the analysis of gold coinage, while SIGMASCOPE GOLD B is optimized for testing the authenticity of gold bars.
SIGMASCOPE GOLD vous permet de vérifier rapidement et de manière non destructrice l'authenticité des objets en or. L'appareil portable détermine avec fiabilité la présence de matériaux étrangers comme le tungstène que l'on retrouve dans les contrefaçons de barres ou de pièces en or. L'instrument mobile est équipé d'une sonde câblée qui permet de réaliser des mesures même à travers des feuilles de protection ou de conditionnement. Cela évite d'endommager des échantillons précieux. SIGMASCOPE GOLD est disponible en deux versions : SIGMASCOPE GOLD C est optimisé pour l'analyse des pièces en or, tandis que SIGMASCOPE GOLD B est optimisé pour tester l'authenticité des barres en or.
Mit dem SIGMASCOPE GOLD können Sie schnell und zerstörungsfrei die Echtheit von Objekten aus Gold prüfen. Das Handgerät weist über die Leitfähigkeit zuverlässig Einschlüsse von Fremdmaterialien wie Wolfram nach, die in gefälschten Goldbarren oder Goldmünzen zu finden sind. Das mobile Messgerät verfügt über eine Kabelsonde, die Messungen selbst unter Schutz- und Verpackungsfolien ermöglicht. Die teuren Proben werden dabei nicht beschädigt. Das SIGMASCOPE GOLD gibt es in zwei Ausführungen: das SIGMASCOPE GOLD C ist für die Analyse von Goldmünzen optimiert, das SIGMASCOPE GOLD B für die Prüfung der Echtheit von Goldbarren.
Прибор SIGMASCOPE GOLD позволяет быстро определять подлинность изделий из золота методом неразрушающего контроля. Ручной прибор позволяет точно определять наличие инородных материалов, например вольфрама, который может присутствовать в неподлинных слитках золота или золотых монетах. Данный переносной прибор оборудован кабельным датчиком, который позволяет осуществлять измерения даже через защитную или упаковочную пленку. Это позволяет исключить повреждения дорогостоящих образцов. Прибор SIGMASCOPE GOLD доступен в двух исполнениях: прибор SIGMASCOPE GOLD C оптимизирован для анализа золотых монет, прибор SIGMASCOPE GOLD B оптимизирован для проверки подлинности золотых слитков.
SIGMASCOPE GOLD ile altın nesnelerin gerçekliğini hızlıca ve bozulma yaratmadan anlayabilirsiniz. Bu el cihazı sahte altın külçelerinde veya altın madeni paralarda bulunabilen volfram gibi yabancı maddelerin varlığını güvenilir şekilde belirler. Bu mobil cihaz, koruyucu veya ambalaj folyolarının içinden bile ölçümler yapmayı sağlayan bir kablolu prob ile donatılmıştır. Bu, değerli numunelerin hasar görmesini önler. SIGMASCOPE GOLD'un iki sürümü bulunmaktadır: SIGMASCOPE GOLD C altın madeni paraların analizi için, SIGMASCOPE GOLD B ise altın külçelerinin gerçekliğini test etmek için geliştirilmiştir.
  Produkti: Precīza un pi...  
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ SEMI ir automatizēta mērījumu sistēma, kas optimizēta mikrostruktūru kvalitātes kontrolei komplicētos 2.5D/3D iepakojumu pielietojumos pusvadītāju industrijā. Pilnīgi automatizētā analīze novērš vērtīgā elementu plātņu materiāla bojājumus.
Mit dem FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ SEMI steht ein automatisiertes Messsystem zur Verfügung, das für die Qualitätskontrolle von Mikrostrukturen bei komplexen 2,5D/3D-Packaging-Anwendungen in der Halbleiterindustrie optimiert wurde. Durch die vollautomatisierte Analyse lassen sich Beschädigungen am teuren Wafer-Material verhindern. Gleichbleibende Prüfbedingungen sorgen für zuverlässige Ergebnisse. Das Instrument ist für den Betrieb im Reinraum geeignet und lässt sich durch vielfältige Ausstattungsmöglichkeiten unkompliziert in bestehende Wafer-Fabs integrieren.
El FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ SEMI es un sistema de medición automatizado y optimizado para el control de calidad de microestructuras en aplicaciones de embalaje 2.5D/3D complejas en la industria de semiconductores. El análisis totalmente automatizado evita daños en obleas valiosas. Y unas condiciones de prueba consistentes proporcionan resultados fiables. El instrumento es adecuado para su uso en salas blancas, y un extenso catálogo de equipamiento permite una integración sencilla en obleas de silicio ya existentes.
Il FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ SEMI è un sistema di misurazione automatizzato, ottimale per il controllo della qualità di microstrutture in complesse applicazioni packaging in 2.5D/3D nell'industria dei semiconduttori. L'analisi completamente automatizzata previene danni al materiale pregiato dei wafer. Condizioni di prova uniformi al contempo forniscono risultati affidabili. Lo strumento è indicato per l'utilizzo in camere bianche; un ampio catalogo di apparecchiature consente la facile integrazione nelle produzioni di wafer esistenti.
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ SEMI on automatiseeritud mõõtesüsteem, mis on optimeeritud pooljuhtide tööstuses keerukate 2,5D/3D pakendamise mikrostruktuuride kvaliteedi kontrollimiseks. Täielikult automatiseeritud analüüs takistab väärtuslike toorikute materjali kahjustamist. Ja järjepidevad katsetingimused annavad usaldusväärseid tulemusi. Instrument sobib kasutamiseks puhastes ruumides ja kompleksne varustuse kataloog võimaldab olemasolevate toorikutega lihtsat integreerimist.
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ SEMI to zautomatyzowany system pomiarowy dla branży półprzewodnikowej zoptymalizowany pod kątem kontroli jakości mikrostruktur w zastosowaniach wykorzystujących upakowanie 2,5D/3D. Pełna automatyzacja analizy zapobiega uszkodzeniu cennych płytek krzemowych. Stałość warunków badania gwarantuje wiarygodność wyników. Przyrząd może być użytkowany w pomieszczeniach czystych, a bogata oferta osprzętu ułatwia integrację z istniejącymi liniami do produkcji płytek krzemowych.
  Produkti: Precīza un pi...  
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ SEMI ir automatizēta mērījumu sistēma, kas optimizēta mikrostruktūru kvalitātes kontrolei komplicētos 2.5D/3D iepakojumu pielietojumos pusvadītāju industrijā. Pilnīgi automatizētā analīze novērš vērtīgā elementu plātņu materiāla bojājumus.
Mit dem FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ SEMI steht ein automatisiertes Messsystem zur Verfügung, das für die Qualitätskontrolle von Mikrostrukturen bei komplexen 2,5D/3D-Packaging-Anwendungen in der Halbleiterindustrie optimiert wurde. Durch die vollautomatisierte Analyse lassen sich Beschädigungen am teuren Wafer-Material verhindern. Gleichbleibende Prüfbedingungen sorgen für zuverlässige Ergebnisse. Das Instrument ist für den Betrieb im Reinraum geeignet und lässt sich durch vielfältige Ausstattungsmöglichkeiten unkompliziert in bestehende Wafer-Fabs integrieren.
El FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ SEMI es un sistema de medición automatizado y optimizado para el control de calidad de microestructuras en aplicaciones de embalaje 2.5D/3D complejas en la industria de semiconductores. El análisis totalmente automatizado evita daños en obleas valiosas. Y unas condiciones de prueba consistentes proporcionan resultados fiables. El instrumento es adecuado para su uso en salas blancas, y un extenso catálogo de equipamiento permite una integración sencilla en obleas de silicio ya existentes.
Il FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ SEMI è un sistema di misurazione automatizzato, ottimale per il controllo della qualità di microstrutture in complesse applicazioni packaging in 2.5D/3D nell'industria dei semiconduttori. L'analisi completamente automatizzata previene danni al materiale pregiato dei wafer. Condizioni di prova uniformi al contempo forniscono risultati affidabili. Lo strumento è indicato per l'utilizzo in camere bianche; un ampio catalogo di apparecchiature consente la facile integrazione nelle produzioni di wafer esistenti.
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ SEMI on automatiseeritud mõõtesüsteem, mis on optimeeritud pooljuhtide tööstuses keerukate 2,5D/3D pakendamise mikrostruktuuride kvaliteedi kontrollimiseks. Täielikult automatiseeritud analüüs takistab väärtuslike toorikute materjali kahjustamist. Ja järjepidevad katsetingimused annavad usaldusväärseid tulemusi. Instrument sobib kasutamiseks puhastes ruumides ja kompleksne varustuse kataloog võimaldab olemasolevate toorikutega lihtsat integreerimist.
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ SEMI to zautomatyzowany system pomiarowy dla branży półprzewodnikowej zoptymalizowany pod kątem kontroli jakości mikrostruktur w zastosowaniach wykorzystujących upakowanie 2,5D/3D. Pełna automatyzacja analizy zapobiega uszkodzeniu cennych płytek krzemowych. Stałość warunków badania gwarantuje wiarygodność wyników. Przyrząd może być użytkowany w pomieszczeniach czystych, a bogata oferta osprzętu ułatwia integrację z istniejącymi liniami do produkcji płytek krzemowych.
  Akreditēta kalibrācijas...  
FISCHER ir ārkārtīgi svarīga apliecinoša kvalitāte un mūsu produktu un pakalpojumu nepārtraukta uzlabošana. Tāpēc Helmut Fischer GmbH, Institut für Elektronik und Messtechnik ir akreditēta saskaņā ar ISO 9001.
Certifiable quality and the continuous improvement of our products and services are of utmost importance at FISCHER. This is why Helmut Fischer GmbH, Institut für Elektronik und Messtechnik, is accredited according to ISO 9001. Our quality management system has fulfilled DIN EN ISO 9001:2008 since 1997.
Chez FISCHER, la qualité certifiable et l'amélioration continue de nos produits et services revêtent une importance capitale. C'est la raison pour laquelle Helmut Fischer GmbH, Institut für Elektronik und Messtechnik, est accrédité selon la norme ISO 9001. Notre système de contrôle qualité satisfait à la norme DIN EN ISO 9001:2008 depuis 1997.
Nachweisbare Qualität und die stetige Verbesserung der Produkte und Dienstleistungen stehen bei Fischer im Fokus. Deshalb ist die Helmut Fischer GmbH, Institut für Elektronik und Messtechnik, nach ISO 9001 zertifiziert. Seit 1997 erfüllt unser Qualitätsmanagementsystem die DIN EN ISO 9001:2008.
La calidad certificada y el desarrollo continuo de nuestros productos y servicios son de máxima importancia en FISCHER. Por esa razón el Helmut Fischer GmbH, Instituto para Electrónica y Técnica de Medición, está acreditado según ISO 9001. Nuestro sistema de gestión de calidad ha cumplido el DIN EN ISO 9001:2008 desde 1997.
La qualità certificabile e il miglioramento continuo dei nostri prodotti e servizi sono della massima importanza in FISCHER. Per questo Helmut Fischer GmbH, Institut für Elektronik und Messtechnik, è accreditato in conformità a ISO 9001. Il nostro sistema di gestione di qualità ha adempiuto a DIN EN ISO 9001:2008 dal 1997.
Certificeerbare kwaliteit en continue verbetering van onze producten en diensten zijn van cruciaal belang bij FISCHER. Daarom is Helmut Fischer GmbH, Institut für Elektronik und Messtechnik, volgens ISO 9001 geaccrediteerd. Ons kwaliteitsmanagementsysteem voldoet al sinds 1997 aan DIN EN ISO 9001:2008.
FISCHERis on ülimalt tähtis tõestatav kvaliteet ja meie toodete ja teenuste pidev parendamine. Sellepärast on Helmut Fischer GmbH, Institut für Elektronik und Messtechnik, akrediteeritud vastavalt ISO 9001. Meie kvaliteedijuhtimissüsteem on täitnud DIN EN ISO 9001: 2008 alates aastast 1997.
FISCHER yra labai svarbi kokybiška ir nuolat gerinama mūsų gaminių ir paslaugų kokybė. Štai kodėl "Helmut Fischer GmbH", Institut für Elektronik und Messtechnik, yra akredituota pagal ISO 9001. Mūsų kokybės valdymo sistema atitinka DIN EN ISO 9001: 2008 nuo 1997 metų.
Certyfikowana jakość i stałe ulepszanie produktów i usług Fischer są dla nas niezwykle ważne. Dlatego Helmut Fischer GmbH, Institut für Elektronik und Messtechnik, posiada akredytację ISO 9001. Nasz system zarządzania jakością spełnia wymagania normy DIN EN ISO 9001:2008 od 1997 roku.
Подтвержденное качество и непрерывное совершенствование наших изделий и услуг являются наиболее важными задачами компании FISCHER. Поэтому компания Helmut Fischer GmbH, Institut für Elektronik und Messtechnik получила аккредитацию согласно стандарту ISO 9001. Система контроля качества компании соответствует требованиям стандарта DIN EN ISO 9001:2008 с 1997 года.
Onaylanabilir kalite ve ürünlerimizin ve hizmetlerimizin sürekli gelişmesi FISCHER bünyesindeki en önemli konudur. İşte bu sebeple Helmut Fischer GmbH, Institut für Elektronik und Messtechnik, ISO 9001 uyarınca onaylıdır. Kalite yönetimi sistemimiz 1997 yılından beri DIN EN ISO 9001:2008 şartlarını sağlamaktadır.
  Seminārs par rokas mēri...  
Uzziniet par mūsdienu metodēm un iekārtām pārklājuma biezuma mērīšanai ar elektromagnētiskajiem procesiem un kulometriju.
Find out about modern methods and devices for measuring coating thicknesses with electromagnetic processes and coulometry.
Découvrez les méthodes et appareils modernes de mesure des épaisseurs de revêtement, avec des procédés électromagnétiques et la coulométrie.
Sie möchten sich gerne über moderne Verfahren und Geräte zur Schichtdickenmessung informieren? Dann sind Sie in unserem Seminar für Schichtdickenmessung genau richtig.
Descubra los métodos y dispositivos modernos de medición del grosor de recubrimiento con procesos electromagnéticos y coulometría.
Scoprite i nuovi metodi e apparecchi per misurare lo spessore di rivestimento con i processi elettromagnetici e la coulometria.
Uuri kaasaegseid meetodeid ja seadmeid, et mõõta kattekihi paksusi elektromagnetiliste protsesside ja kululomeetriga.
Sužinokite apie šiuolaikinius metodus ir prietaisus, skirtus matuoti dangų storį elektromagnetiniais procesais ir kulonometru.
Dowiedz się więcej o nowoczesnych metodach i przyrządach do pomiaru grubości powłok metodą elektromagnetyczną lub kulometryczną.
В рамках семинара обсуждаются современные методы и устройства, предназначенные для измерения толщины покрытия с помощью электромагнитных процессов и кулонометрии.
Elektromanyetik işlemleri ve kulometri ile kaplama kalınlıklarını ölçmeye yönelik modern yöntemler ve cihazlar hakkında bilgi edinin.
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