nm – -Translation – Keybot Dictionary

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Layers of light elements from sodium onwards on the nm scale
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Couches d'éléments légers à partir du sodium, de l'ordre de l'échelle nm
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Au / Pd Coatings in the nm Range on Printed Circuit Boards
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Messung von Lackschichten auf rauen Oberflächen
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Au / Pd Coatings in the nm Range on Printed Circuit Boards
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Messung von Lackschichten auf rauen Oberflächen
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Hot-Dip Galvanization as Corrosion Protection
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As the electronics industry makes use of ever thinner coatings, manufacturers increase their demands on measuring technologies to provide reliable parameters for product monitoring. One example is the Au/Pd/Ni/Cu/printed circuit board system with coating thicknesses for Au and Pd of just a few nm.
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In der Elektronik-Industrie werden zunehmend immer dünnere Schichten verwendet. Damit steigen auch die Anforderungen an die Messtechnik, um im Rahmen einer industriellen Produktion zuverlässige Kenngrößen zur Produktionsüberwachung und -steuerung zu liefern. Ein Beispiel hierfür ist das System Au/Pd/Ni/Cu/Leiterplatte mit Schichtdicken für Au und Pd bis hinunter zu wenigen nm. Als Messmethode zur Qualitätsüberwachung dieser Schichtsysteme haben sich Röntgenfluoreszenz-Geräte etabliert.
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The coating system Au/Pd/Ni is frequently used in the electroplating of leadframes, with CuFe2 (CDA 195) as substrate material. Typical coating thicknesses are between 3-10 nm Au and 10-100 nm Pd. For monitoring the quality of these coating systems, X-ray fluorescence instruments have established themselves as the measurement method of choice.
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In der Elektronik-Industrie werden zunehmend immer dünnere Schichten verwendet. Damit steigen auch die Anforderungen an die Messtechnik, um im Rahmen einer industriellen Produktion zuverlässige Kenngrößen zur Produktionsüberwachung und -steuerung zu liefern. Ein Beispiel hierfür ist das System Au/Pd/Ni/Cu/Leiterplatte mit Schichtdicken für Au und Pd bis hinunter zu wenigen nm. Als Messmethode zur Qualitätsüberwachung dieser Schichtsysteme haben sich Röntgenfluoreszenz-Geräte etabliert.
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The coating system Au/Pd/Ni is frequently used in the electroplating of leadframes, with CuFe2 (CDA 195) as substrate material. Typical coating thicknesses are between 3-10 nm Au and 10-100 nm Pd. For monitoring the quality of these coating systems, X-ray fluorescence instruments have established themselves as the measurement method of choice.
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In der Elektronik-Industrie werden zunehmend immer dünnere Schichten verwendet. Damit steigen auch die Anforderungen an die Messtechnik, um im Rahmen einer industriellen Produktion zuverlässige Kenngrößen zur Produktionsüberwachung und -steuerung zu liefern. Ein Beispiel hierfür ist das System Au/Pd/Ni/Cu/Leiterplatte mit Schichtdicken für Au und Pd bis hinunter zu wenigen nm. Als Messmethode zur Qualitätsüberwachung dieser Schichtsysteme haben sich Röntgenfluoreszenz-Geräte etabliert.
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Layers of light elements from sodium onwards on the nm scale
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Capas de elementos livianos desde sodio en adelante en la escala nm
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Strati di elementi luminosi dal sodio in avanti in scala nm
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Sodyumdan itibaren nm ölçeğinde hafif elementlerin katmanları
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Au / Pd Coatings in the nm Range on Printed Circuit Boards
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Au/Pd-Schichten im nm-Bereich auf Leiterplatten
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For such technical applications hard anodized coatings must have a consistent hardness of 400-600 HV across the entire section. Soft anodized coatings for decorative applications have a hardness of about 200-400 HV, which is reached a few hundred nm below the surface.
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Für solche technischen Anwendungen müssen die harteloxierten Schichten über den gesamten Schichtquerschnitt eine konstante Härte von 400-600 HV aufweisen. Weichere Eloxalschichten für dekorative Anwendungen liegen mit der Härte bei etwa 200-400 HV und erreichen diese wenige 100 nm unter der Oberfläche.
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Precious metal coatings as thin as a few nm
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Revêtements de métaux précieux mesurant seulement quelques nm d'épaisseur
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Recubrimientos de metal precioso con tan solo unos mm de grosor
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Edelmetaalcoatings, zelfs van slechts enkele nm
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Birkaç nm kadar ince değerli metal kaplamaları
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Fig. 2: Lateral coating thickness distribution of a specimen coated with only a few nm Au.
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Abb. 2: Laterale Verteilung der Dicken der Au-Schicht
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As the electronics industry makes use of ever thinner coatings, manufacturers increase their demands on measuring technologies to provide reliable parameters for product monitoring. One example is the Au/Pd/Ni/Cu/printed circuit board system with coating thicknesses for Au and Pd of just a few nm.
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In der Elektronik-Industrie werden zunehmend immer dünnere Schichten verwendet. Damit steigen auch die Anforderungen an die Messtechnik, um im Rahmen einer industriellen Produktion zuverlässige Kenngrößen zur Produktionsüberwachung und -steuerung zu liefern. Ein Beispiel hierfür ist das System Au/Pd/Ni/Cu/Leiterplatte mit Schichtdicken für Au und Pd bis hinunter zu wenigen nm. Als Messmethode zur Qualitätsüberwachung dieser Schichtsysteme haben sich Röntgenfluoreszenz-Geräte etabliert.
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With its focus on precision and trueness, FISCHER also provides a wide selection of calibration standards, produced in its own accredited calibration laboratory. To measure PCB layer thicknesses below 100 nm it is mandatory to calibrate the instrument with standards of similar thickness.
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Mit dem Fokus auf Präzision und Richtigkeit bietet FISCHER zudem eine große Palette an Kalibrierstandards, gefertigt im eigenen akkreditierten Kalibrierlabor. Um PCB-Beschichtungen < 100 nm zu messen ist es unerlässlich, das Messsystem mit Standards ähnlicher Dicke zu kalibrieren. Für Schichten unter 50 nm kommen nur Geräte mit Halbleiterdetektor zum Einsatz.
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With its focus on precision and trueness, FISCHER also provides a wide selection of calibration standards, produced in its own accredited calibration laboratory. To measure PCB layer thicknesses below 100 nm it is mandatory to calibrate the instrument with standards of similar thickness.
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Mit dem Fokus auf Präzision und Richtigkeit bietet FISCHER zudem eine große Palette an Kalibrierstandards, gefertigt im eigenen akkreditierten Kalibrierlabor. Um PCB-Beschichtungen < 100 nm zu messen ist es unerlässlich, das Messsystem mit Standards ähnlicher Dicke zu kalibrieren. Für Schichten unter 50 nm kommen nur Geräte mit Halbleiterdetektor zum Einsatz.
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The combination of state-of-the-art detector technology and the powerful analysis software, WinFTM®, allows for reliable, accurate measurements of coating thicknesses even in ranges below 10 nm. For use on leadframes, the FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD instruments are recommended for relatively normal-sized specimens; for very small structures, the XDV®-µ model, with its special X-ray optics, ensures a very small measurement spot of only 20 µm on the specimen.
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Die Kombination aus modernster Detektor-Technologie (Silizium-Drift-Detektor) und entsprechend leistungsstarker Analyse-Software WinFTM® erlaubt die zuverlässige Messung von Schichtdicken auch im Bereich von unter 10 nm. Für die Anwendung auf Lead-Frames empfehlen sich dabei die Geräte FISCHERSCOPE® X-RAY XDV-SDD bei normalen Probenabmessungen und XDV-µ bei sehr kleinen Strukturen. Bei diesem Gerätetyp sorgt eine spezielle Röntgenoptik für einen sehr kleinen Messpunkt von nur 20 µm auf der Probe.
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For Au coating thicknesses of about 4, 6 and 9 nm, the results from the X-ray fluorescence instruments were all between the two other methods, with deviations in the sub-nm range, confirming not only the low scatter but also the trueness of measurements using X-ray fluorescence instruments.
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Bei Au-Schichtdicken von ca. 4, 6 und 9 nm lagen die Ergebnisse der Röntgenfluoreszenz-Geräte jeweils zwischen den anderen beiden Methoden, bei Abweichungen im sub-nm Bereich. Damit ist nicht nur die geringe Streuung sondern auch die Richtigkeit der Messungen mit Röntgenfluoreszenz-Geräten bestätigt. Die Rückführbarkeit der Messergebnisse wird durch die speziell für diese Messaufgabe entwickelten Kalibrierstandards von Fischer ermöglicht. Die einfache Handhabung der Röntgenfluoreszenz-Geräte ermöglicht bei Bedarf auch das Scannen einer Probe, um die Homogenität der Schichtdicke zu bestimmen (siehe Abb. 2).
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For Au coating thicknesses of about 4, 6 and 9 nm, the results from the X-ray fluorescence instruments were all between the two other methods, with deviations in the sub-nm range, confirming not only the low scatter but also the trueness of measurements using X-ray fluorescence instruments.
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Bei Au-Schichtdicken von ca. 4, 6 und 9 nm lagen die Ergebnisse der Röntgenfluoreszenz-Geräte jeweils zwischen den anderen beiden Methoden, bei Abweichungen im sub-nm Bereich. Damit ist nicht nur die geringe Streuung sondern auch die Richtigkeit der Messungen mit Röntgenfluoreszenz-Geräten bestätigt. Die Rückführbarkeit der Messergebnisse wird durch die speziell für diese Messaufgabe entwickelten Kalibrierstandards von Fischer ermöglicht. Die einfache Handhabung der Röntgenfluoreszenz-Geräte ermöglicht bei Bedarf auch das Scannen einer Probe, um die Homogenität der Schichtdicke zu bestimmen (siehe Abb. 2).
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The coating system Au/Pd/Ni is frequently used in the electroplating of leadframes, with CuFe2 (CDA 195) as substrate material. Typical coating thicknesses are between 3-10 nm Au and 10-100 nm Pd. For monitoring the quality of these coating systems, X-ray fluorescence instruments have established themselves as the measurement method of choice.
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In der Elektronik-Industrie werden zunehmend immer dünnere Schichten verwendet. Damit steigen auch die Anforderungen an die Messtechnik, um im Rahmen einer industriellen Produktion zuverlässige Kenngrößen zur Produktionsüberwachung und -steuerung zu liefern. Ein Beispiel hierfür ist das System Au/Pd/Ni/Cu/Leiterplatte mit Schichtdicken für Au und Pd bis hinunter zu wenigen nm. Als Messmethode zur Qualitätsüberwachung dieser Schichtsysteme haben sich Röntgenfluoreszenz-Geräte etabliert.
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The coating system Au/Pd/Ni is frequently used in the electroplating of leadframes, with CuFe2 (CDA 195) as substrate material. Typical coating thicknesses are between 3-10 nm Au and 10-100 nm Pd. For monitoring the quality of these coating systems, X-ray fluorescence instruments have established themselves as the measurement method of choice.
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In der Elektronik-Industrie werden zunehmend immer dünnere Schichten verwendet. Damit steigen auch die Anforderungen an die Messtechnik, um im Rahmen einer industriellen Produktion zuverlässige Kenngrößen zur Produktionsüberwachung und -steuerung zu liefern. Ein Beispiel hierfür ist das System Au/Pd/Ni/Cu/Leiterplatte mit Schichtdicken für Au und Pd bis hinunter zu wenigen nm. Als Messmethode zur Qualitätsüberwachung dieser Schichtsysteme haben sich Röntgenfluoreszenz-Geräte etabliert.
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The XAN 250 both determines the material content and assesses coatings all in one analysis cycle, with extra-ordinary repeatability: Table 1 shows the results from ten measurements of a 14-carat gold object coated with 400 nm of rhodium, taken specifically to verify the instrument’s repeatability precision.
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Sowohl die Zusammensetzung als auch die Dicke einer eventuellen Beschichtung können mit dem XAN 250 in einem Analysevorgang mit außergewöhnlich guter Wiederholpräzision bestimmt werden, wie das Beispiel in Tabelle 1 zeigt.
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3 nm
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(0,2 mm
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1,2 nm
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0,9 nm
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(1 mm
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0,5 nm
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(1 mm
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1,2 nm
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0,9 nm