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Le département SAM coordonne l’école doctorale européenne sur la « Caractérisation des nanomatériaux à l’aide de faisceaux ioniques et électroniques concentrés ». Elle se concentre sur trois techniques complémentaires : SIMS, TEM et AES et a pour but de former des spécialistes de la caractérisation des nanomatériaux. Cette formation est composée de quatre semaines de cours théoriques et d’une semaine d’analyse, réparties sur un cycle de deux ans. Les cours théoriques et les sessions pratiques sont assurés par d’éminents professeurs et chercheurs de ce domaine. Les sessions pratiques consistent en des séminaires sur mesure en petits groupes.
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