|
|
Feladatom egy olyan mérési eljárás kidolgozása, amely alkalmas az új, szilícium alapú, folytonos szcintillátor kristállyal ellátott detektormodulok vizsgálatára. A hagyományos vizsgálati módszer azon alapul, hogy gamma-foton nyalábbal gerjesztik a szcintillátor tűmátrix egyes elemeit. Tekintve, hogy a gamma-fotonok egy nyaláb mentén haladnak a kristályban, azt egy véges vastagságú vonal mentén gerjesztik (2. ábra). Másképpen megfogalmazva, nem lehet pontosan tudni, hogy a mérés során a gamma-foton a kristálytűben milyen mélységben nyelődött el, vagyis nem lehet tudni, hogy pontosan milyen pontban történt gerjesztésre adott választ mérjük. Ez kristálytűk esetében mégsem jelent gondot, mivel tű a kibocsátott optikai fotonok számára úgynevezett homogenizáló rúdként viselkedik. Vagyis ha szemünk képes lenne ilyen alacsony intenzitású felvillanást látni, akkor sem látnánk pontszerű forrást a kristályban, mindössze azt figyelhetnénk meg, hogy a tű vége világít. Ennek megfelelően azt lehet megállapítani, hogy kristálytűben a felvillanás mélységi információja elvész.
|