ray – Übersetzung – Keybot-Wörterbuch

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X-ray diffractometer
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Röntgendiffraktometer
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Besides these well-established methods also complementary techniques are used, such as in-situ diffraction investigations with neutron and synchrotron X-ray radiation working on the beamlines at ILL (Institute Laue-Langevin), Bragg-Institute (ANSTO) and Helmholtz-Zentrum Geesthacht at the German Electron Synchrotron (DESY).
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Zur experimentellen Untersuchung von Phasengleichgewichten und Phasenumwandlungen wird auf die am Department verfügbaren Standardverfahren zurückgegriffen, wie beispielsweise Dilatometrie und Dynamische Differenzkalorimetrie. Weiterführende Untersuchungen mit dem Schwerpunkt der Phasencharakterisierung werden unter Zuhilfenahme der Rasterelektronenmikroskopie mit integrierter Elektronenrückstreubeugung sowie Transmissionselektronenmikroskopie durchgeführt. Neben diesen etablierten Verfahren sind auch komplementäre Techniken im Einsatz, so z.B. in-situ Beugungsuntersuchungen mittels Neutronen und hochenergetischer Synchrotronstrahlung an den Beamlines des Instituts Laue-Langevin (ILL), des Bragg-Instituts (ANSTO) sowie des Helmholtz-Zentrums Geesthacht am Deutschen Elektronen-Synchrotron (DESY).
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The investigations are based on structural studies of depth-profile variations in film texture, morphology, stress state and thermal properties by transmission electron microscopy, advanced X-ray diffraction, Raman and X-ray photoelectron spectroscopy, and atomic force microscopy as well as on micromechanical studies of deformation mechanisms by tension, compression and bending.
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Die Untersuchungen basieren auf Strukturstudien anhand von Schichttiefenprofilen mit Variationen in der Schichttextur, der Morphologie, dem Spannungszustand und den thermischen Eigenschaften, die mit Hilfe der Transmissionselektronenmikroskopie, Röntgendiffraktometrie, Raman und Röntgenphotoelektronen-Spektroskopie, Rasterkraftmikroskopie sowie mikromechanischen Untersuchungen von Verformungsmechanismen bei Zug-, Druck- und Biegebeanspruchung charakterisiert werden. Um die Effekte und Auswirkungen verschiedener Beanspruchungen der Schichten zu verstehen, werden typischerweise experimentelle Untersuchungen mit Hilfe von Nanoindentation unter Verwendung von Berkovich-, Cube-Corner- oder Kugel-Indentern durchgeführt, und mit analytischen und Finite Elemente Modellierungen kombiniert, um einen Einblick in das Spannungsfeld unterhalb der Indenterspitze zu erhalten. Die Ergebnisse erlauben die Anpassung des Spannungszustandes und der Spannungsgradienten in funktionalen nanokristallinen Einfach- und Multilagen-Schichten durch kontrolliertes Wachstum sowie durch neuartiges Schichtdesign. Dieser wissenschaftliche Ansatz stellt die Basis für ein wissensbasiertes Design von funktionalen Schichtsystemen mit verbesserter Leistung dar.
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The investigations are based on structural studies of depth-profile variations in film texture, morphology, stress state and thermal properties by transmission electron microscopy, advanced X-ray diffraction, Raman and X-ray photoelectron spectroscopy, and atomic force microscopy as well as on micromechanical studies of deformation mechanisms by tension, compression and bending.
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Die Untersuchungen basieren auf Strukturstudien anhand von Schichttiefenprofilen mit Variationen in der Schichttextur, der Morphologie, dem Spannungszustand und den thermischen Eigenschaften, die mit Hilfe der Transmissionselektronenmikroskopie, Röntgendiffraktometrie, Raman und Röntgenphotoelektronen-Spektroskopie, Rasterkraftmikroskopie sowie mikromechanischen Untersuchungen von Verformungsmechanismen bei Zug-, Druck- und Biegebeanspruchung charakterisiert werden. Um die Effekte und Auswirkungen verschiedener Beanspruchungen der Schichten zu verstehen, werden typischerweise experimentelle Untersuchungen mit Hilfe von Nanoindentation unter Verwendung von Berkovich-, Cube-Corner- oder Kugel-Indentern durchgeführt, und mit analytischen und Finite Elemente Modellierungen kombiniert, um einen Einblick in das Spannungsfeld unterhalb der Indenterspitze zu erhalten. Die Ergebnisse erlauben die Anpassung des Spannungszustandes und der Spannungsgradienten in funktionalen nanokristallinen Einfach- und Multilagen-Schichten durch kontrolliertes Wachstum sowie durch neuartiges Schichtdesign. Dieser wissenschaftliche Ansatz stellt die Basis für ein wissensbasiertes Design von funktionalen Schichtsystemen mit verbesserter Leistung dar.
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X-ray diffractometry is used for the determination of the crystallographic structure of thin films, powders and bulk materials. At the department, two diffractometers of type Bruker AXS D8 Advance are available.
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Zur Bestimmung des kristallographischen Aufbaus dünner Schichten, sowie von Pulvern und kristallinen Bulkmaterialien werden Röntgenfeinstrukturuntersuchungen durchgeführt. Für diese Untersuchungen stehen am Department zwei Diffraktometer des Typs Bruker AXS D8 Advance zur Verfügung. Diese Röntgendiffraktometer bestehen aus Strahlungsquelle (Kupferröntgenröhren), Monochromatoren, diversen Blenden und Detektoren. Bei der Messung wird die Probe mit monochromatischem Röntgenlicht bestrahlt und die Beugung dieser Strahlung am Kristallgitter detektiert. Beim Durchfahren eines vordefinierten Winkelbereichs wird nach jenen Reflexionswinkeln gesucht, bei denen sich Intensitätsmaxima ausbilden. Die somit gemessenen Reflexwinkel sind charakteristisch für kristalline Materialien und ermöglichen dadurch unter anderem die Bestimmung der Phasenzusammensetzung von festen Proben. Die am Department verwendeten Detektoren erlauben es zusätzlich die Energie der gemessenen Strahlung einzustellen, was zu einem sehr guten Signal/Rausch-Verhältnis führt. Dies gilt besonders für Stahlproben, welche unter Kupferröntgenstrahlung stark fluoreszieren. Desweitern ermöglicht eine Eulerwiege durch das Kippen der Probe sowohl den Eigenspannungszustand, als auch die Textur des untersuchten Materials genau zu bestimmen. Eine Hochtemperaturkammer der Marke Anton Paar 1200 N gestattet es außerdem Proben bis 1200 °C aufzuheizen und unter Vakuum, Luft oder oxidierender Atmosphäre Phasenumwandlungen oder chemische Reaktionen zu erforschen.
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X-ray diffractometry is used for the determination of the crystallographic structure of thin films, powders and bulk materials. At the department, two diffractometers of type Bruker AXS D8 Advance are available.
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Zur Bestimmung des kristallographischen Aufbaus dünner Schichten, sowie von Pulvern und kristallinen Bulkmaterialien werden Röntgenfeinstrukturuntersuchungen durchgeführt. Für diese Untersuchungen stehen am Department zwei Diffraktometer des Typs Bruker AXS D8 Advance zur Verfügung. Diese Röntgendiffraktometer bestehen aus Strahlungsquelle (Kupferröntgenröhren), Monochromatoren, diversen Blenden und Detektoren. Bei der Messung wird die Probe mit monochromatischem Röntgenlicht bestrahlt und die Beugung dieser Strahlung am Kristallgitter detektiert. Beim Durchfahren eines vordefinierten Winkelbereichs wird nach jenen Reflexionswinkeln gesucht, bei denen sich Intensitätsmaxima ausbilden. Die somit gemessenen Reflexwinkel sind charakteristisch für kristalline Materialien und ermöglichen dadurch unter anderem die Bestimmung der Phasenzusammensetzung von festen Proben. Die am Department verwendeten Detektoren erlauben es zusätzlich die Energie der gemessenen Strahlung einzustellen, was zu einem sehr guten Signal/Rausch-Verhältnis führt. Dies gilt besonders für Stahlproben, welche unter Kupferröntgenstrahlung stark fluoreszieren. Desweitern ermöglicht eine Eulerwiege durch das Kippen der Probe sowohl den Eigenspannungszustand, als auch die Textur des untersuchten Materials genau zu bestimmen. Eine Hochtemperaturkammer der Marke Anton Paar 1200 N gestattet es außerdem Proben bis 1200 °C aufzuheizen und unter Vakuum, Luft oder oxidierender Atmosphäre Phasenumwandlungen oder chemische Reaktionen zu erforschen.
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X-ray diffractometry is used for the determination of the crystallographic structure of thin films, powders and bulk materials. At the department, two diffractometers of type Bruker AXS D8 Advance are available.
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Zur Bestimmung des kristallographischen Aufbaus dünner Schichten, sowie von Pulvern und kristallinen Bulkmaterialien werden Röntgenfeinstrukturuntersuchungen durchgeführt. Für diese Untersuchungen stehen am Department zwei Diffraktometer des Typs Bruker AXS D8 Advance zur Verfügung. Diese Röntgendiffraktometer bestehen aus Strahlungsquelle (Kupferröntgenröhren), Monochromatoren, diversen Blenden und Detektoren. Bei der Messung wird die Probe mit monochromatischem Röntgenlicht bestrahlt und die Beugung dieser Strahlung am Kristallgitter detektiert. Beim Durchfahren eines vordefinierten Winkelbereichs wird nach jenen Reflexionswinkeln gesucht, bei denen sich Intensitätsmaxima ausbilden. Die somit gemessenen Reflexwinkel sind charakteristisch für kristalline Materialien und ermöglichen dadurch unter anderem die Bestimmung der Phasenzusammensetzung von festen Proben. Die am Department verwendeten Detektoren erlauben es zusätzlich die Energie der gemessenen Strahlung einzustellen, was zu einem sehr guten Signal/Rausch-Verhältnis führt. Dies gilt besonders für Stahlproben, welche unter Kupferröntgenstrahlung stark fluoreszieren. Desweitern ermöglicht eine Eulerwiege durch das Kippen der Probe sowohl den Eigenspannungszustand, als auch die Textur des untersuchten Materials genau zu bestimmen. Eine Hochtemperaturkammer der Marke Anton Paar 1200 N gestattet es außerdem Proben bis 1200 °C aufzuheizen und unter Vakuum, Luft oder oxidierender Atmosphäre Phasenumwandlungen oder chemische Reaktionen zu erforschen.