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OM, confocal microscope, AFM, SEM, FE-SEM, XRD, EDX, XRF, microhardness tester, ball-on-disc, taber tester, scratch tester, corrosion test chambers (CNS, CASS), weather chambers, karcher, profilometers, metallographic analysis equipments, colorimeters.
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Caracterización de superficies: OM, mi: OM, microscopía confocal, AFM, SEM, FE-SEM, XRD, EDX, XRF, Microdureza, Ball-on-disc, taber, scratch-tester, cámaras de corrosión (CNS, CASS), cámaras climáticas, karcher, perfilometría, análisis metalográfico, colorimetría.
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OM, mikroskopia fokukidea, AFM, SEM, FE-SEM, XRD, EDX, XRF, mikrogogortasuna, Ball-pn-disc, taber, scratch-tester, korrosio-ganberak (CNS, CASS), ganbera klimatikoak, karcher, perfilometria, analisi metalografikoa, kolorimetria.
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